TT230涂層測厚儀,TT230氧化膜測厚儀
TT230涂層測厚儀是一種超小型測量儀, TT230氧化膜測厚儀能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。TT230涂層測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于TT230氧化膜測厚儀體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。
TT230 涂層測厚儀符合以下標準:
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
TT230涂層測厚儀特點
TT230 涂層測厚儀采用了渦流測厚法,可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)
可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正;
具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據,以便進行新的測量;
設有五個統計量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV);
具有米、英制轉換功能;
具有打印功能,可打印測量值、統計值;
具有欠壓指示功能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯誤提示功能;
具有自動關機功能。
TT230涂層測厚儀技術參數
測頭類型 | N | |
測量原理 | 電渦流 | |
測量范圍 | 0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻) | |
低限分辨力 | 1µm(10um以下為0.1um) | |
探頭連接方式 | 一體化 | |
示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1.5] |
兩點校準(um) | ±[(1%~3%)H+1.5] | |
測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸3 凹10 |
基體zui小面積的直徑(mm) | ф5 | |
zui小臨界厚度(mm) | 0.3 | |
溫濕度 | 0~40℃ | |
統計功能 | 平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、 | |
工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) | |
測量方式 | 連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE) | |
上下限設置 | 無 | |
存儲能力 | 15 個測量值 | |
打印/連接計算機 | 可選配打印機/不能連接電腦 | |
關機方式 | 自動 | |
電源 | 二節3.6V鎳鎘電池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g |
TT230涂層測厚儀配置
主機
標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
鋁基體
充電器
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