Panametrics 35美國泛美測厚儀
美國泛美35測厚儀在大多數應用中都可應用35型和35DL型• 從薄到厚的大多數材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸
利用減縮率,可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。 |
所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。
可直接顯示聲速數值的聲速測量模式 |
Panametrics 35材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關系的應用中,這個標準功能非常有用。典型應用包括監測金屬鑄件的球化程度,以及監測復合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數字卡尺,用于自動傳輸測量厚度值。
自動調用功能可簡化測量操作
自動調用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時,35型儀器都可調用相關內置探頭的所有參數。
存儲的標準設置標準設置包括大多數常用的探頭。
存儲的自定義設置在標準設置不能滿足特殊的應用需求時,這些測厚儀可以創建、存儲和調用多達20個自定義設置(35型和35HP型可調用10個自定義設置)
在這種基本應用中不可使用測微計。然而,可以使用配有M208探頭的35型儀器,在不損壞玻璃的情況下,進行校準精度達0.001毫米(0.0001英寸)的厚度測量。 |
超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。 |
分辨率(通過鍵區可選): | ||
低: | 0.1 mm | (0.01 in.) |
標準: | 0.01 mm | (0.001 in.) |
高: | 0.001 mm | (0.0001 in.) (35型和35DL型) |
渡越時間測量范圍:0.0 µs~109.5 µs
渡越時間分辨率:固定在000.01 µs。
測量更新速率:4、8、16或zui大頻率值(16~20 Hz,因應用和測量模式不同而不同)。
探頭頻率范圍:2.25 MHz~30 MHz(35型和35DL型)
0.5 MHz~5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型)
zui小/zui大模式:顯示當前厚度、zui小厚度或zui大厚度(視設置而定)。
顯示保持/空白:顯示上一個讀數后,屏幕顯示空白或者持續顯示這個讀數。
報警模式:可編程高/低報警設定點,帶有視聽報警指示器。
差分模式:顯示實際測量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式:顯示厚度數值及實測厚度與參考厚度的百分比差值。
自動調用功能:自動為各種默認的和自定義的探頭設置調節內部參數。
標準附件
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